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Gottdang, A.*; Klein, M.*; Mous, D. J. W.*; 北村 敏勝; 水谷 義彦*; 鈴木 崇史; 荒巻 能史; 外川 織彦; 甲 昭二*; 須藤 一彦*
AIP Conference Proceedings 576, p.403 - 406, 2001/00
3MVタンデトロンを用いた重元素測定用AMSシステムは、原研むつにおいて運用を開始している。本システムは、イオン入射システムに逐次入射法を採用している。高エネルギー質量分析部には、エネルギー弁別機能を持った独立する二つのフォイルにより対象となる同位体を測定する独特なTOFシステムを採用している。この方法は
Clや
Ca測定のように同重体の影響を受ける元素分析に適しており、フォイルに起因する散乱ビームを処理するため大きな散乱ビームにも対応できるように設計されている。本講演では、システムの構成及び特徴について議論するとともに、テストの結果得られたI-129の測定精度及び装置のバックグラウドについて報告する。
山本 春也; 楢本 洋
Proceedings of 16th International Conference on the Application of Accelerators in Research and Industry, p.466 - 469, 2001/00
多層膜材料の開発では、界面が原子層レベルで平坦な多層膜の作製技術や界面構造、構成元素の周期性の評価技術の確立が不可欠である。また、金属多層膜の物性は水素吸蔵により変化することが知られているが、多層膜中の水素の存在状態はいまだ明らかにされていない。本報告では、互いに固溶しないため原子層レベルで平坦な界面が形成されると期待されるCuとNbから成る多層膜を研究対象とし、(1)電子ビーム蒸着法による
-Al
O
基板上へのNb単結晶膜並びにCu/Nb単結晶多層膜のエピタキシャル成長条件の探索、(2)RBS/チャネリング法による単結晶多層膜の界面構造と周期構造の評価、(3)
共鳴核反応法を用いたNb/Cu多層膜中の水素固溶度や界面近傍での水素挙動の解析を進め、得られた研究成果を総説する。
